根据《中华人民共和国促进科技成果转化法》等国家法律法规，现将如下科技成果转让进行公示。公示期15天，自2020年06月10日至2020年06月24日。如有任何异议，请于公示期内向科研院实名反映。

联系方式：025-84892757

专利（申请）号/软件登记号： ZL201410543522.6

专利（软件著作权/技术秘密）名称： 针对合成孔径雷达BP成像的自聚焦方法

专利（软件著作权/技术秘密）简介：一种针对合成孔径雷达BP成像的自聚焦方法，根据BP方法层析成像的特点，基于对比度最优化准则以及图像对比度与相位误差之间的关系，利用BP反投得到一小块成像场景层析图进行相位误差估计获取相位误差补偿向量，然后将最终的相位误差补偿向量补偿到对应脉冲反投所得到的整个场景复图像上去，再将复图像相干叠加，即可得到最终聚焦后的SAR图像。并且提出了适用于BP成像方法的自聚焦方法两种流程，分析比较了这两种流程的运算量和适用场合，以及该自聚焦方法总体性能，最后通过处理实测数据，比较图像结果，避免了传统的适合频域成像方法的自聚焦方法就不适用于BP方法并且其有效性和可行性不高的缺陷。

专利（软件著作权/技术秘密）权人： 张劲东、陈家瑞、班阳阳、邱晓燕

专利权人： 南京航空航天大学

专利授权日：2017-02-15

专利（申请）号/软件登记号： ZL201410652044.2

专利（软件著作权/技术秘密）名称： 一种划分子孔径PFA雷达成像方法

专利（软件著作权/技术秘密）简介：本发明公开了一种划分子孔径PFA雷达成像方法，属于雷达成像技术领域。它将全孔径划分为若干子孔径，用PFA对子孔径处理得出方位向低分辨率图像，然后用PGA自聚焦处理消除子孔径图像运动误差，通过方位向升采样，再经过空变滤波和几何校正处理消除几何失真，随后将几何校正得到的所有子孔径图像有重叠的划分子块进行图像配准，最后将配准后的所有子孔径图像相干融合得到最终的SAR图像。本发明将大块的全孔径数据划分为小块的子孔径数据处理提高了成像处理效率；在实行子孔径图像配准时把图像有重叠的划分子块进行配准，这样既能更好实现整个图像的配准，又能在配准后实现子块的无缝隙拼接。

专利（软件著作权/技术秘密）权人： 张劲东、陈家瑞、班阳阳、唐笑为

专利权人：  南京航空航天大学

专利授权日：2017-09-15

受让方：南京六季光电技术研究院有限公司

转让/许可方式：专利权转让

拟交易价格及价格形成过程：经双方协商，转让价格拟定为拾万元。